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012月3日消息,虽然此前戴尔宣布其生产的新一代Blackwell架构的GB200 NVL72服务器已经正式出货,这也反应了英伟达GB200芯片也已经开始批量出货。但是,据台媒《工商时报》报道,GB200在量产计划中遇到了新的技术障碍。导致了CSP供应商微软削减了40%的订单。 报道援引供应链消息人士的话称,此次问题出在背板连接设计上,美国一级供应商安费诺提供的卡式连接器测试良率一直不理想。GB200 的重大规格升级增加了生产复杂性,导致良率低下和测试失败,
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1接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统气流式高低温设备(热流仪、温箱等)相比具有升降温效率高,操作简单方便,体积小巧,噪音低等特点。 接触式高低温设备的用途广泛,在不同领域下的用途也不同,具体如下: 电子元器件测试: 接触式高低温冲击机能够精确控制待测器件(DUT)的温度,适用于IC特性测试、失效分析以及ATE、SLT等测试场景。 该设备特别适用于
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0天府智算中心(二期)项目服务采购项目的招标信息可以归纳如下: 一、项目概况 项目名称:天府智算中心(二期)项目服务采购项目 二、招标内容 训练算力集群服务: 500PFLOPS训练算力服务 算力调度服务 集群部署服务 集群所需IDC租赁服务 互联网出口带宽网络服务 异地传输专线网络服务 训练算力集群所需运维服务等 推理算力集群服务: 500PFLOPS推理算力服务 算力调度服务 集群部署服务 集群所需IDC租赁服务 互联网出口带宽网络服务 异地传输专线
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1回收海康威视大华监控摄像头,全国回收大华海康网络硬盘录像机, 联系18912277015同V。 全国回收大华海康高清监控摄像头,回收网络录像机,回收网络高清摄像头,全国回收海康威视录像机,全国回收海康威视硬网络摄像头,回收海康监控解码器 回收海康摄阵列存储产品,回收海康威视硬盘,回收大华摄像头,回收大华监控产品,回收品牌监控产品,海康,大华,华为,宇视,监控产品,长期回收监控设备。
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19兼容HFBR-1414TZ/HFBR-2412TZ国产替代的光模块有没有人知道,我们是做SVG项目、逆变器、变频器的、以前试了几家都不行。
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0接触式高低温冲击机ATC840采用的设计和技术,具有广泛的温度范围:-55℃至+200℃,通过与热头尖端直接接触,精确地持续刺激DUT达到所需的温度。 接触式高低温冲击机ATC840热头设计具有高效率和灵活性,允许不同热头尖端,以适应不同的 IC 尺寸和接口变化。 通过高清触摸屏或远程通信接口可以设置温度,查看历史数据记录等,同时可以在触摸屏上查看温度曲线。系统可以在IC上提供快速和精确的温度转换,即使是在设备功率变化的情况下,也可以使
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5回收光模块吗?有没有价位表发来看看
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0接触式高低温设备ATC系列通过接触头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。 接触式高低温设备主要特点: (1)广泛的温度范围,涵盖大多数半导体,电子工业,汽车和商业的测试要求。 (2)极端温度之间的快速转换循环。 (3)内部热电偶空气温度控制和监测。 (4)外
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1002长期高价大量收购全新原包装光模块华为1.25G-10KM40KM80KM2.5G-15KM40KM80KM10G-1.4KM 10G-0.3KM10G-10KM 10G-15KM10G-40KM 10G-80KM100G-10KM40KM80KM华为 中兴 烽火 海信OLTC+ C++全新光模块5530,,米,10231出租光模块测试设备,提供场地出租000我司是专业加工生产温控设备和激光驱动设备! 温控设备:温度范围:-50℃——120℃,-20℃——200℃,常温——300℃。温度精度:±0.1℃或者±0.01℃。 激光驱动设备:蝶型激光驱动电源(100mA-3000mA)、连续脉冲激光电源、大电流(20A-200A)激光驱动电源等。00芯片的HAST测试是一种集成电路(IC)行业中常用的可靠性测试方法。它通过将芯片置于高温高湿环境下,模拟芯片在实际应用中可能面临的恶劣条件,以评估芯片的稳定性和可靠性。HAST测试的主要原理是通过高温和高湿度加速芯片老化过程,从而更早地暴露出潜在的问题。 针对HAST测试,测试座在配合测试时需要注意以下几个方面: 耐高温高湿性能:HAST测试中,温度通常在100°C至150°C之间,湿度高达85%至95%。因此,测试座需要具备良好的耐高温高湿0thermoplate三温测试台ATC860通过接触头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。 thermoplate三温测试台ATC860主要特点: (1)广泛的温度范围,涵盖大多数半导体,电子工业,汽车和商业的测试要求。 (2)温度之间的快速转换循环。 (3)内部热电偶空气温度控制和监测。 (4)外10HAST试验是“highly accelerated temperature and humidity stress testing”的缩写,即:高加速稳态湿热&应力试验(高加速温度、湿度、应力试验),在GB/T 2423.40-1997内对应名称描述为“未饱和高压蒸汽恒定湿热试验” HAST试验是针对非气密性封装器件,通过温度、湿度、压力、偏压来加速湿气进入到器件内部,从而加速器件老化,考察器件抗湿气能力。 HAST试验的失效机理与传统的恒温恒湿试验(“85℃/85%RH”或者“THB”)的失效机理一致。常用的试验条件如130℃,85%RH056请在下面留下联系方式~谢谢! 我会联系您的~05兼容AFBR-1629Z/AFBR-2529Z的国产替代光模块有没有人知道,我们是做SVG项目、逆变器、变频器的,最近试了好几家的产品都不给力,真的愁死了。600十余年行业加工,独立模房,压铸+冲压+注塑,自有电镀产线,从图纸输入到包装出货一条龙217请问哪里有兼容HFBR-1521Z/HFBR-2521Z 的国产替代?我了解到阳光电源、上能电气、古瑞瓦特、固德威、特变电工、首航新能源等等这些公司都在选择用FT-1521Z/FT-2521Z去替换HFBR-1521Z/HFBR-2521Z,这个有了解的吗?