根据IEC 61215标准，光伏组件的鉴定需要使用规定剂量的UVA和UVB辐射进行预处理。与传统辐射计不同，新的BTS256-UV光谱辐射计能够最精确地测量UVA和UVB辐照度水平，而不考虑所使用的UV源类型。每个设备都配有可追溯的校准证书，并设计为在所需的高温下运行。
中国区代表：张琼177651O3945
BTS256-UV测量280 nm至400 nm光谱范围内紫外线预处理系统产生的光谱辐照度。这可以最准确地确定UVA和UVB辐射的绝对比例。通过RS-485串行接口和软件读出套件S-SRK-BTS256，可将其纳入自动化系统。这可以控制紫外线辐射系统，并确保紫外线辐射的适当剂量在15 kWh/m2的紫外线规定总剂量范围内。完整的测量数据可通过用户应用软件或读取工具包获得。
BTS256-UV光谱仪内置于不锈钢外壳内，具有出色的紫外线稳定性和低导热性，可在60℃±5℃的强制温度下可靠运行。其薄结构和集成余弦散流器确保在所需平面内正确测量辐照度。
千兆赫兹Optik的校准实验室为BTS256-UV提供工厂校准，具有最高级别的可追溯性。它们受到与Gigahertz Optik的DAkkS认证校准和测试实验室相同的质量管理。可选择提供BTS256-UV的ISO 17025认证校准测试证书。BTS256-UV光谱辐射计的光谱范围为200 nm至520nm，因此适用于其他高强度紫外线应用，包括紫外线固化、太阳模拟、紫外线风化系统和杀菌紫外线辐射。手持式便携式紫外分光辐射计，具有创新的杂散光校正功能，用于精确测量紫外线固化等应用中的辐照度和剂量
大波长范围200纳米至525纳米
高度低，12毫米，是传送带的理想选择
专为高紫外线辐射和温度通过不锈钢外壳设计
机电孔径，用于自动偏移补偿和创新的杂散光校正
使用ISO 17025选项进行可追溯校准
高强度紫外线测量应用
紫外线和蓝色光谱范围内的高强度辐射源的典型应用包括紫外线辐射固化、太阳模拟、紫外线消毒、紫外线测试系统和紫外线下水道修复。对于具有重复测量任务的基于过程的应用，X1-RCH-116-4 UV固化仪等宽带辐射计通常是最有效的解决方案，因为它们易于使用、物有所值且重新校准成本低。
紫外光谱辐射计与紫外宽带辐射计
BTS256-UV等光谱辐射计是宽带辐射计的替代品，可提供辐射源光谱分布的额外信息。如果必须研究宽带紫外灯的波长相关老化行为，或者必须在不同波长范围内测量辐照度，则光谱信息尤为重要。如果必须测量不同光谱分布的源，这一点也很重要。为此，宽带辐射计理想情况下需要考虑这些光谱差异的单独校准因子。这对于光谱辐射计来说是不必要的。此外，光谱辐射计比宽带辐射计提供更精确的测量值。这是因为它们的光谱灵敏度函数对应于选定光谱测量范围内的矩形函数。对于紫外光谱范围内的精确测量，需要非常好的杂散光抑制，这是市场上通常可用的阵列光谱仪无法提供的。
BTS256-UV光谱辐射计符合光谱辐射测量仪器的最新设计标准，可对便携式仪表进行极好的杂散光校正
光谱灵敏度范围宽，完全适用于各种紫外线源（LED、HMI等）
光谱灵敏度范围为200 nm至525 nm，可在紫外至蓝色波长范围内精确测量辐照度。甚至UVA LED的长波光谱成分（通常范围高达490 nm）也被完全捕获。特别是，在紫外或蓝光固化中的应用，以及短波LED在UVC范围内的使用趋势，都得到了这种宽光谱范围的支持。
余弦视场（f2）和平面设计
测量扩展光源时，正确测量与角度有关的辐照度需要仪器的余弦校正视场函数。此外，传感器到辐照度基准面的距离必须尽可能小。BTS256-UV测量仪器的高度仅为12 mm，具有精确的余弦视场（低f2），是市场上最薄的光谱辐射计之一，适用于绝对辐照度的精确测量。
杂散光校正和自动暗信号减法
杂散光和暗信号对采用CCD或CMOS阵列传感器的紫外光谱辐射计的测量结果都有重要影响。如果紫外线灯的发射光谱具有长波成分（从可见光到红外），则杂散光始终是关键，这会导致设备实际测量范围内的杂散光。紫外线范围内的杂散光强度很容易超过实际测量信号的强度，从而导致相当大的测量误差。相比之下，暗信号是由手持设备使用期间的工作温度波动以及测量不同辐照度水平所需的积分时间变化引起的。
尽管BTS256-UV光谱辐射计的设计非常平坦，但它的标准配置是创新的杂散光校正、集成光学滤波器和暗级快门。这两项功能都是自动化的。这保证了在不同的工作温度下，对不同类型的发射器进行精确的辐照度测量。
抗强紫外线辐射和高温
在实践中，光谱仪经常暴露在高强度的紫外线辐射和温度效应下，这些效应被认为会在应用中触发老化效应或交联过程。BTS256-UV光谱仪内置于不锈钢外壳内，具有出色的紫外线稳定性和低导热性，以保护电子设备。同时，确保了波长和辐照度读数的稳定性。
中国区代表：张琼177651O3945
BTS256-UV测量280 nm至400 nm光谱范围内紫外线预处理系统产生的光谱辐照度。这可以最准确地确定UVA和UVB辐射的绝对比例。通过RS-485串行接口和软件读出套件S-SRK-BTS256，可将其纳入自动化系统。这可以控制紫外线辐射系统，并确保紫外线辐射的适当剂量在15 kWh/m2的紫外线规定总剂量范围内。完整的测量数据可通过用户应用软件或读取工具包获得。
BTS256-UV光谱仪内置于不锈钢外壳内，具有出色的紫外线稳定性和低导热性，可在60℃±5℃的强制温度下可靠运行。其薄结构和集成余弦散流器确保在所需平面内正确测量辐照度。
千兆赫兹Optik的校准实验室为BTS256-UV提供工厂校准，具有最高级别的可追溯性。它们受到与Gigahertz Optik的DAkkS认证校准和测试实验室相同的质量管理。可选择提供BTS256-UV的ISO 17025认证校准测试证书。BTS256-UV光谱辐射计的光谱范围为200 nm至520nm，因此适用于其他高强度紫外线应用，包括紫外线固化、太阳模拟、紫外线风化系统和杀菌紫外线辐射。手持式便携式紫外分光辐射计，具有创新的杂散光校正功能，用于精确测量紫外线固化等应用中的辐照度和剂量
大波长范围200纳米至525纳米
高度低，12毫米，是传送带的理想选择
专为高紫外线辐射和温度通过不锈钢外壳设计
机电孔径，用于自动偏移补偿和创新的杂散光校正
使用ISO 17025选项进行可追溯校准
高强度紫外线测量应用
紫外线和蓝色光谱范围内的高强度辐射源的典型应用包括紫外线辐射固化、太阳模拟、紫外线消毒、紫外线测试系统和紫外线下水道修复。对于具有重复测量任务的基于过程的应用，X1-RCH-116-4 UV固化仪等宽带辐射计通常是最有效的解决方案，因为它们易于使用、物有所值且重新校准成本低。
紫外光谱辐射计与紫外宽带辐射计
BTS256-UV等光谱辐射计是宽带辐射计的替代品，可提供辐射源光谱分布的额外信息。如果必须研究宽带紫外灯的波长相关老化行为，或者必须在不同波长范围内测量辐照度，则光谱信息尤为重要。如果必须测量不同光谱分布的源，这一点也很重要。为此，宽带辐射计理想情况下需要考虑这些光谱差异的单独校准因子。这对于光谱辐射计来说是不必要的。此外，光谱辐射计比宽带辐射计提供更精确的测量值。这是因为它们的光谱灵敏度函数对应于选定光谱测量范围内的矩形函数。对于紫外光谱范围内的精确测量，需要非常好的杂散光抑制，这是市场上通常可用的阵列光谱仪无法提供的。
BTS256-UV光谱辐射计符合光谱辐射测量仪器的最新设计标准，可对便携式仪表进行极好的杂散光校正
光谱灵敏度范围宽，完全适用于各种紫外线源（LED、HMI等）
光谱灵敏度范围为200 nm至525 nm，可在紫外至蓝色波长范围内精确测量辐照度。甚至UVA LED的长波光谱成分（通常范围高达490 nm）也被完全捕获。特别是，在紫外或蓝光固化中的应用，以及短波LED在UVC范围内的使用趋势，都得到了这种宽光谱范围的支持。
余弦视场（f2）和平面设计
测量扩展光源时，正确测量与角度有关的辐照度需要仪器的余弦校正视场函数。此外，传感器到辐照度基准面的距离必须尽可能小。BTS256-UV测量仪器的高度仅为12 mm，具有精确的余弦视场（低f2），是市场上最薄的光谱辐射计之一，适用于绝对辐照度的精确测量。
杂散光校正和自动暗信号减法
杂散光和暗信号对采用CCD或CMOS阵列传感器的紫外光谱辐射计的测量结果都有重要影响。如果紫外线灯的发射光谱具有长波成分（从可见光到红外），则杂散光始终是关键，这会导致设备实际测量范围内的杂散光。紫外线范围内的杂散光强度很容易超过实际测量信号的强度，从而导致相当大的测量误差。相比之下，暗信号是由手持设备使用期间的工作温度波动以及测量不同辐照度水平所需的积分时间变化引起的。
尽管BTS256-UV光谱辐射计的设计非常平坦，但它的标准配置是创新的杂散光校正、集成光学滤波器和暗级快门。这两项功能都是自动化的。这保证了在不同的工作温度下，对不同类型的发射器进行精确的辐照度测量。
抗强紫外线辐射和高温
在实践中，光谱仪经常暴露在高强度的紫外线辐射和温度效应下，这些效应被认为会在应用中触发老化效应或交联过程。BTS256-UV光谱仪内置于不锈钢外壳内，具有出色的紫外线稳定性和低导热性，以保护电子设备。同时，确保了波长和辐照度读数的稳定性。
