北京仪综所高低温实验室，提供高低温摸底租场服务，第三方检测机构，CNAS和CMA国家认可检测机构，出具权威检测报告。提供GBT2423标准高低温测试报告，高低温试验属于气候环境试验中比较通用和普遍的检测项目类型之一，高低温气候环境试验模拟干热和干冷大气环境，如夏天的天热，冬天的天冷。
高低温环境试验检测咨询彭工136-9109-3503
高低温环境试验分为高温工作、低温工作、低温贮存、高温贮存测试类型。
实验室具备从0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低温温度试验系统，具备独立的搭接样品的空间，试验箱一侧均具备出线端子，可以引出电源线或信号线进行产品的工作操作试验。
高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。
高低温测试试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。
高低温High and low temperature testing试验方法：
预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。
样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。
高温和低温试验分别重复10次。
重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。
恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。
最后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。
实验室安全按照CNAS授权检测范围基础标准GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温》 和 GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温》标准进行高低温工作、高低温贮存、高低温极限、干冷干热、温度变化、高温老化、高温寿命、高低温耐受性试验技术服务，出具带有CNAS,CMA印章的第三方检测报告。
高低温环境试验检测咨询彭工136-9109-3503
高低温环境试验分为高温工作、低温工作、低温贮存、高温贮存测试类型。
实验室具备从0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低温温度试验系统，具备独立的搭接样品的空间，试验箱一侧均具备出线端子，可以引出电源线或信号线进行产品的工作操作试验。
高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。
高低温测试试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。
高低温High and low temperature testing试验方法：
预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。
样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。
高温和低温试验分别重复10次。
重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。
恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。
最后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。
实验室安全按照CNAS授权检测范围基础标准GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温》 和 GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温》标准进行高低温工作、高低温贮存、高低温极限、干冷干热、温度变化、高温老化、高温寿命、高低温耐受性试验技术服务，出具带有CNAS,CMA印章的第三方检测报告。
